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厚度6.0 μm光譜儀薄膜--250

簡要描述:美國Chemplex樣品膜被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測,適用于RoHS&WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。厚度6.0 μm光譜儀薄膜--250

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時間:2024-05-15
  • 訪  問  量:836

詳細介紹

厚度6.0 μm光譜儀薄膜--250

厚度6.0 μm光譜儀薄膜--250

 

 

邁拉膜、麥拉膜、XRF樣品膜、X-RAY樣品膜、ROHS測試膜、X射線熒光膜、土壤樣品杯膜、mylar--美國Chemplex 250#

     

現(xiàn)貨供應(yīng):XRF樣品膜、XRF薄膜、EDX樣品膜、EDX薄膜、樣品薄膜、X-RAY樣品膜、ROHS測試膜、X-ray樣品膜、X熒光光譜儀樣品膜、光譜儀樣品膜、邁拉膜、麥拉膜、Mylar膜、美國Chemplex樣品膜

  

品名:XRF樣品膜Sample Film

目錄編號CAT.NO250

產(chǎn)品信息:Mylar(邁拉膜、麥拉膜),卷軸,厚度6.0 μm,寬7.6cm x 91.4m,1/

品牌:美國Chemplex Industries.Inc.(*)

貨期:現(xiàn)貨

起訂量:1盒以上。

 

適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF

日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學Rigaku、日本堀場Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、AsomaKevex、Metorex、Siemens、Spectrace、PhilipsFisons。

   

 

 

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